Computed electron micrographs and defect identification

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:	Head, A. K. (Επιμελητής έκδοσης), Humble, P. (Επιμελητής έκδοσης), Clarebrough, L. M. (Επιμελητής έκδοσης), Morton, A. J. (Επιμελητής έκδοσης), Forwood, C. T. (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή:	Electronic Resource
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Amsterdam North-Holland [1973]
Σειρά:	Defects in crystalline solids v. 7
Θέματα:	Metals > Defects > Data processing. Electron microscopy > Data processing. Electronic books.
Διαθέσιμο Online:	Available for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access Also available remotely for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access thru EZproxy