Computed electron micrographs and defect identification

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون:	Head, A. K. (المحرر), Humble, P. (المحرر), Clarebrough, L. M. (المحرر), Morton, A. J. (المحرر), Forwood, C. T. (المحرر)
التنسيق:	Electronic Resource
اللغة:	English
منشور في:	Amsterdam North-Holland [1973]
سلاسل:	Defects in crystalline solids v. 7
الموضوعات:	Metals > Defects > Data processing. Electron microscopy > Data processing. Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:	Available for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access Also available remotely for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access thru EZproxy