Characterization in silicon processing

Characterization in silicon processing

Zobrazit všechna vydaní (2)
Podrobná bibliografie
Další autoři: Strausser, Yale, Brundle, C. Richard, Evans, Charles A.
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: New York Momentum Press c2010.
Témata:
Silicon.
Electric conductors.
Semiconductor films.
Surface chemistry.