Recombination lifetime measurements in silicon

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:	Gupta, D. C., Bacher, Fred R. 1955-, Hughes, William M. 1948-
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	West Conshohocken, PA ASTM c1998.
Những chủ đề:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.