Recombination lifetime measurements in silicon

Recombination lifetime measurements in silicon

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Gupta, D. C., Bacher, Fred R. 1955-, Hughes, William M. 1948-
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: West Conshohocken, PA ASTM c1998.
বিষয়গুলি:
Semiconductors > Testing > Congresses.
Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses.
Electronic measurements > Congresses.