Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
נושאים:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.