Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Schlagworte:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.