Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Dettagli Bibliografici
Ente Autore: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Soggetti:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.