Bridging faults and IDDQ testing

Bridging faults and IDDQ testing

Библиографические подробности
Соавтор: IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
Формат: ‌
Язык:English
Опубликовано: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Society Press c1992.
Предметы:
IDDQ testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary > Testing > Data processing.