VLSI testing digital and mixed analogue/digital techniques

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Hurst, Stanley L.
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Herts, U.K. The Institution of Electrical Engineers c1998.
বিষয়গুলি:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
অনলাইন ব্যবহার করুন:	Also available online for University of the Philippines Diliman via IET Digital Library. Click here to access