Obálka

Logic testing and design for testability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Fujiwara, Hideo (Autor)
Médium: Electronic Resource
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cambridge, Massachusetts The MIT Press [1985]
Témata:
Logic circuits > Testing.
Electronic books.
On-line přístup:https://ieeexplore-ieee-org.ezproxy.engglib.upd.edu.ph/book/6267264
https://ieeexplore.ieee.org/book/6267264