Fundamentals of modern VLSI devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:	Taur, Yuan (Συγγραφέας), Ning, Tak H. (Συγγραφέας)
Μορφή:	Electronic Resource
Γλώσσα:	Αγγλικά
Έκδοση:	Cambridge Cambridge University Press [2021]
Θέματα:	Metal oxide semiconductors, Complementary. Bipolar transistors. Integrated circuits > Very large scale integration.
Διαθέσιμο Online:	Click here to access thru EZproxy Click here to access