Fundamentals of modern VLSI devices

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:	Taur, Yuan (Auteur), Ning, Tak H. (Auteur)
Formaat:	Electronic Resource
Taal:	English
Gepubliceerd in:	Cambridge Cambridge University Press [2021]
Onderwerpen:	Metal oxide semiconductors, Complementary. Bipolar transistors. Integrated circuits > Very large scale integration.
Online toegang:	Click here to access thru EZproxy Click here to access