Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Tác giả chính: Callanga, Jennifer F.
Tác giả khác: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2020
Những chủ đề: