Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

ग्रंथसूची विवरण
में प्रकाशित:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
मुख्य लेखक: Callanga, Jennifer F.
अन्य लेखक: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
स्वरूप: लेख
भाषा:English
प्रकाशित: 2020
विषय: