Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

Détails bibliographiques
Publié dans:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
Auteur principal: Callanga, Jennifer F.
Autres auteurs: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
Format: Article
Langue:English
Publié: 2020
Sujets: