Analysis of crack propagation under different die tilt configuration on a small outline transistor

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:Philippine Engineering Journal Vol. 41, no. 1 (2020), 19-32
প্রধান লেখক: Callanga, Jennifer F.
অন্যান্য লেখক: Macaspac, Hannah Erika, Danao, Louis Angelo M., Mena, Manolo
বিন্যাস: প্রবন্ধ
ভাষা:English
প্রকাশিত: 2020
বিষয়গুলি: