Multi-run memory tests for pattern sensitive faults
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| פורמט: | Electronic Resource |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Cham
Springer International Publishing
[2019]
|
| מהדורה: | First edition. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access Also available remotely for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy |