Multi-run memory tests for pattern sensitive faults

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Mrozek, Ireneusz (Συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή:	SpringerLink (Online service)
Μορφή:	Electronic Resource
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Cham Springer International Publishing [2019]
Έκδοση:	First edition.
Θέματα:	Electronic circuits. Electronics. Microelectronics. Microprocessors. Electronic books.
Διαθέσιμο Online:	Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access Also available remotely for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy