Computed electron micrographs and defect identification

Détails bibliographiques
Autres auteurs:	Head, A. K. (Éditeur intellectuel), Humble, P. (Éditeur intellectuel), Clarebrough, L. M. (Éditeur intellectuel), Morton, A. J. (Éditeur intellectuel), Forwood, C. T. (Éditeur intellectuel)
Format:	Electronic Resource
Langue:	English
Publié:	Amsterdam North-Holland [1973]
Collection:	Defects in crystalline solids v. 7
Sujets:	Metals > Defects > Data processing. Electron microscopy > Data processing. Electronic books.
Accès en ligne:	Available for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access Also available remotely for University of the Philippines System via ScienceDirect. Click here to access thru EZproxy