Head, A. K., Humble, P., Clarebrough, L. M., Morton, A. J., & Forwood, C. T. (1973). Computed electron micrographs and defect identification. North-Holland.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton, и C. T. Forwood. Computed Electron Micrographs and Defect Identification. Amsterdam: North-Holland, 1973.
Цитирование MLA (9-е изд.)Head, A. K., et al. Computed Electron Micrographs and Defect Identification. North-Holland, 1973.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.