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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Goldstein, Joseph 1939- (Auteur)
Format: Electronic Resource
Langue:English
Publié: New York Springer [2003]
Édition:Third edition.
Sujets:
Scanning electron microscopy.
X-ray microanalysis.
Electronic books.
Accès en ligne:Available for University of the Philippines Diliman College of Engineering via SpringerLink. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines Diliman College of Engineering via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy
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