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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Alle Versionen (2)
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Goldstein, Joseph 1939- (VerfasserIn)
Format: Electronic Resource
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer [2003]
Ausgabe:Third edition.
Schlagworte:
Scanning electron microscopy.
X-ray microanalysis.
Electronic books.
Online Zugang:Available for University of the Philippines Diliman College of Engineering via SpringerLink. Click here to access
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