Two-dimensional parametric mapping and characterization of semiconductor devices using optical-feedback confocal microscopy
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Opinnäyte |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Quezon City
National Institute of Physics, College of Science, University of the Philippines Diliman
2009.
|
| Aiheet: |