Investigation of the effect of varying silicon die size and thickness on a small outline transistor on the silicon die crack using finite element method

Бібліографічні деталі
Автор:	Ducusin, Hannah Erika R. (Автор)
Інші автори:	Dimagiba, Richard Raymond N. (adviser.), Mena, Manolo G. (adviser.)
Формат:	Дисертація
Мова:	Англійська
Предмети:	Transistors.