Microelectronic test structures for CMOS technology

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products. The role of test structures in the development and monitoring of CMOS technologies and products has...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Bhushan, Manjul
সংস্থা লেখক: SpringerLink (Online service)
অন্যান্য লেখক: Ketchen, Mark B.
বিন্যাস: Electronic Resource
ভাষা:English
প্রকাশিত: New York Springer c2011.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access