Citace podle APA (7th ed.)

Bhushan, M., & Ketchen, M. B. (2011). Microelectronic test structures for CMOS technology. Springer.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Bhushan, Manjul, a Mark B. Ketchen. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology. New York: Springer, 2011.

Citace podle MLA (9th ed.)

Bhushan, Manjul, a Mark B. Ketchen. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology. Springer, 2011.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..