Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces

High-Speed Serial Interface (HSSI) devices have become widespread in communications, from the embedded to high-performance computing systems, and from on-chip to a wide haul. Testing of HSSIs has been a challenging topic because of signal integrity issues, long test time and the need of expensive in...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Fan, Yongquan 1970-
সংস্থা লেখক: SpringerLink (Online service)
অন্যান্য লেখক: Zilic, Zeljko
বিন্যাস: Electronic Resource
ভাষা:English
প্রকাশিত: Dordrecht Springer Netherlands 2011.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access