বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
UPFind
গ্রন্থ সম্ভার:
0
উপাদানগুলি
(সম্পূর্ণ)
ভাষা
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
সমস্ত ক্ষেত্রসমূহ
আখ্যা
লেখক
বিষয়
ডাক সংখ্যা
আইসবিএন/আইএসএসএন
অনুসন্ধান
বিস্তৃত
Simulated annealing and testin...
সাইট করুন
এই ই-মেইলটি
মুদ্রণ
নথি এক্সপোর্ট করুন
Export toEndNote
Export toMARC
Export toMARCXML
গ্রন্থসম্ভারে রাখুন
গ্রন্থসম্ভার থেকে মুছুন
স্থায়ী লিঙ্ক
Simulated annealing and testing. IN Test Run.
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:
MSDN magazine
27, 1 (Jan. 2012).
প্রধান লেখক:
McCaffrey, James
বিন্যাস:
প্রবন্ধ
ভাষা:
English
বিষয়গুলি:
Simulated annealing (Mathematics)
C# (Computer program language)
হোল্ডিংস
বিবরন
প্রাকদর্শন
স্টাফেদের বিবরণ দেখুন
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman