Rao, R. Statistical analysis of subthreshold leakage current for VLSI circuits. IEEE Transactions on VLSI systems.
Citace podle Chicago (17th ed.)Rao, R. "Statistical Analysis of Subthreshold Leakage Current for VLSI Circuits." IEEE Transactions on VLSI Systems .
Citace podle MLA (9th ed.)Rao, R. "Statistical Analysis of Subthreshold Leakage Current for VLSI Circuits." IEEE Transactions on VLSI Systems, .
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..