Michael, M. Function-based compact test pattern generation for path delay faults. IEEE Transactions on VLSI systems.
Citace podle Chicago (17th ed.)Michael, M.K. "Function-based Compact Test Pattern Generation for Path Delay Faults." IEEE Transactions on VLSI Systems .
Citace podle MLA (9th ed.)Michael, M.K. "Function-based Compact Test Pattern Generation for Path Delay Faults." IEEE Transactions on VLSI Systems, .
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..