Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Michael, M. Function-based compact test pattern generation for path delay faults. IEEE Transactions on VLSI systems.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Michael, M.K. "Function-based Compact Test Pattern Generation for Path Delay Faults." IEEE Transactions on VLSI Systems .

Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)

Michael, M.K. "Function-based Compact Test Pattern Generation for Path Delay Faults." IEEE Transactions on VLSI Systems, .