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Egan, T. Design-for-testability for embedded delay-locked loops. IEEE Transactions on VLSI systems.

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Egan, T. "Design-for-testability for Embedded Delay-locked Loops." IEEE Transactions on VLSI Systems .

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Egan, T. "Design-for-testability for Embedded Delay-locked Loops." IEEE Transactions on VLSI Systems, .

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