Microarchitecture-level leakage reduction with data retention.

In this paper, we study microarchitecture-level leakage energy reduction by power gating. We consider the virtual power/ground rails clamp (VRC) and multithreshold CMOS (MTCMOS) techniques and apply VRC to memory-based units for data retention and MTCMOS to the other units. We propose a systematic m...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:IEEE Transactions on VLSI systems 13, 11 (2005).
Tác giả chính: Weiping Liao
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề: