Microarchitecture-level leakage reduction with data retention.

In this paper, we study microarchitecture-level leakage energy reduction by power gating. We consider the virtual power/ground rails clamp (VRC) and multithreshold CMOS (MTCMOS) techniques and apply VRC to memory-based units for data retention and MTCMOS to the other units. We propose a systematic m...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রকাশিত:IEEE Transactions on VLSI systems 13, 11 (2005).
প্রধান লেখক: Weiping Liao
বিন্যাস: প্রবন্ধ
ভাষা:English
বিষয়গুলি: