Characterization in compound semiconductor processing

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: McGuire, Gary E. (Redaktor), Strausser, Yale E. (Redaktor), Brundle, C. Richard (Redaktor), Evans, Charles A. (Redaktor)
Format: Książka
Język:English
Wydane: New York Momentum Press [2010]
Hasła przedmiotowe: