Characterization in compound semiconductor processing

Characterization in compound semiconductor processing

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: McGuire, Gary E. (Επιμελητής έκδοσης), Strausser, Yale E. (Επιμελητής έκδοσης), Brundle, C. Richard (Επιμελητής έκδοσης), Evans, Charles A. (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Momentum Press [2010]
Θέματα:
Compound semiconductors.
Compound semiconductors > Surfaces.