Characterization in silicon processing

Characterization in silicon processing

Show all versions (2)
מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Strausser, Yale, Brundle, C. Richard, Evans, Charles A.
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: New York Momentum Press c2010.
נושאים:
Silicon.
Electric conductors.
Semiconductor films.
Surface chemistry.