Characterization in silicon processing

Characterization in silicon processing

Näytä kaikki versiot (2)
Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Strausser, Yale, Brundle, C. Richard, Evans, Charles A.
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:English
Julkaistu: New York Momentum Press c2010.
Aiheet:
Silicon.
Electric conductors.
Semiconductor films.
Surface chemistry.