Baksht, T. Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. IEEE Transactions on electron devices.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices .
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.