Baksht, T. Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. IEEE Transactions on electron devices.
Chicago-referens (17:e uppl.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices .
MLA-referens (9:e uppl.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.