Baksht, T. Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. IEEE Transactions on electron devices.
Citace podle Chicago (17th ed.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices .
Citace podle MLA (9th ed.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..