Baksht, T. Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. IEEE Transactions on electron devices.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices .
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices, .
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.