Baksht, T. Impact ionization measurements and modeling for power PHEMT. IEEE Transactions on electron devices.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices .
Цитирование MLA (9-е изд.)Baksht, T. "Impact Ionization Measurements and Modeling for Power PHEMT." IEEE Transactions on Electron Devices, .
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.