Pomeranz, I. Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults. IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Pomeranz, I. "Test Enrichment for Path Delay Faults Using Multiple Sets of Target Faults." IEEE Transactions on Computer-aided Design of Integrated Circuits and Systems .
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Pomeranz, I. "Test Enrichment for Path Delay Faults Using Multiple Sets of Target Faults." IEEE Transactions on Computer-aided Design of Integrated Circuits and Systems, .
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.