Recombination lifetime measurements in silicon

Recombination lifetime measurements in silicon

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Gupta, D. C., Bacher, Fred R. 1955-, Hughes, William M. 1948-
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: West Conshohocken, PA ASTM c1998.
נושאים:
Semiconductors > Testing > Congresses.
Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses.
Electronic measurements > Congresses.