Kansikuva

Sampling, wavelets, and tomography

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät: Benedetto, John, Zayed, Ahmed I.
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Boston Birkhauser c2004.
Aiheet:
Harmonic analysis.
Wavelets (Mathematics)
Fourier analysis.
Sampling (Statistics)
Tomography.