Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
| Muut tekijät: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
New York
Springer
c2003.
|
| Painos: | 3rd ed. |
| Aiheet: | |
| Linkit: | Also available online for University of the Philippines Diliman College of Engineering via Springer. Click here to access |