Recombination lifetime measurements in silicon.

Bibliographische Detailangaben
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	West Conshohocken, PA ASTM 1998.
Schlagworte:	Semiconductors > Testing > Congresses. Sevice life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.