Recombination lifetime measurements in silicon.

التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق:	كتاب
اللغة:	English
منشور في:	West Conshohocken, PA ASTM 1998.
الموضوعات:	Semiconductors > Testing > Congresses. Sevice life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.