Ảnh bìa

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Bushnell, Michael L. (Michael Lee) 1950-
Tác giả khác: Agrawal, Vishwani D. 1943-
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: New York, N.Y. Springer c2000.
Những chủ đề:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Digital integrated circuits > Testing.
Mixed signal circuits > Testing.
Semiconductor storage devices > Testing.
Truy cập trực tuyến:Also available online for University of the Philippines Diliman College of Engineering via Springer. Click here to access