Quantitative x-ray diffractometry.

Quantitative x-ray diffractometry.

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Zevin, Lev S.
Formatua: Liburua
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York Springer 1995
Gaiak:
X-rays > Diffraction.
X-rays > Diffraction > Industrial applications.