Կազմի պատկեր

Quantitative x-ray diffractometry.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Zevin, Lev S.
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: New York Springer 1995
Խորագրեր:
X-rays > Diffraction.
X-rays > Diffraction > Industrial applications.