Εξώφυλλο

Multiple-beam interferometry of surfaces and films.

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Tolansky, Samuel
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Oxford Oxford at the Clarendon [1948].
Θέματα:
Interferometers.
Metallography.
Surfaces (Technology).