$Understanding the effect of surface flaws on fracture of silicon die$
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Understanding the effect of surface flaws on fracture of silicon die

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Punzalan, Jaime C.
Format:	Abschlussarbeit
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2003.
Schlagworte:	Fracture mechanics. Fractography. Materials > Cracking > Measurement. Semiconductor wafers. Silicon crystals.